手机光传感器高低温变形测试

在手机光传感器的高低温变形测试中，光传感器需要经受从20℃降至-40℃，再升至200℃的极端温度变化。为了确保光传感器在这些温度条件下的性能稳定性，精确测量其在不同温度环境下的微小变形至关重要。海塞姆视觉应变测量系统以其先进的数字图像相关（DIC）技术，为这一测试提供了可靠的解决方案。

传统的接触式测量方法在处理微小元件时，尤其是在极端温度下，往往面临精度不足和环境干扰的问题。接触式传感器在温度剧烈变化时可能会引入误差，甚至对光传感器这样的敏感组件造成物理损伤。而海塞姆视觉应变测量系统采用非接触式的测量方式，通过高分辨率的图像捕捉和精确的应变计算，成功避免了这些潜在问题。

试件尺寸和测试布置

在测试过程中，光传感器的表面形变被实时捕捉，系统能够精准跟踪温度变化引起的微小应变，并即时输出应力应变曲线。这一过程不仅提供了高精度的变形数据，还通过生成的可视化图像，直观展示了光传感器在不同温度条件下的应变分布情况。这些数据对于分析光传感器的热膨胀、收缩以及由此引发的性能变化具有重要意义。

通过该系统的应用，研究人员能够深入了解光传感器在极端温度环境下的力学行为，为确保产品在各种使用条件下的可靠性提供了科学依据。这一高效、精准的测试过程，大大提升了光传感器在极端温度下的稳定性研究，推动了更为可靠的手机光学组件的开发与应用。